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  • 產品名稱：單晶矽試樣Silicon Test Specimen

  • 產品型號：79502-01
  • 產品廠商：其它品牌
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簡單介紹：
光（電）學顯微鏡放大倍率校正用單晶矽試樣（同時評估圖象扭曲度）。5mm x 5mm見方，每10µm (0.01mm)有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線，用於光學顯微鏡檢測；分隔線和方格由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接置於單晶矽試樣上，從而對光鏡（或者低倍電鏡）進行內部標定。
詳情介紹：

單晶矽試樣Silicon Test Specimen

    光（電）學顯微鏡放大倍率校正用單晶矽試樣（同時評估圖象扭曲度）。5mm x 5mm見方，每10µm (0.01mm)有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線，用於光學顯微鏡檢測；分隔線和方格由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接置於單晶矽試樣上，從而對光鏡（或者低倍電鏡）進行內部標定。

 

單晶矽試樣Silicon Test Specimen

    可根據掃描電鏡型號的不同選擇試樣及所帶的樣品台。產品選購：

貨號

產品

規格

79502-01

Silicon Test Specimen, Unmounted單晶矽試樣

each

79502-10

Silicon Test Specimen, Unmounted

10/pk

79502-12

Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub

each

79502-20

Silicon Test Specimen for Incident LM

each

79502-30

Calibration Certificate帶有認證書的單晶矽試樣

each

滬公網安備 31010902002433號