產品名稱：Omniprobe Double TEM Grid Holder透射電鏡雙載網夾

1.Double TEM Grid Holder透射電鏡雙載網夾

透射電鏡雙載網座有兩個載網，有一個方便卸載樣品的裝有彈簧的鉗夾。雙載網夾擁有標準的柱基腳規格：ø3.2 x 4mm長 (1/8" x 0.15")，可與大多數標準的固定套鞘匹配。材質可以有非磁性不鏽鋼和鋁製兩種選擇。

The Double TEM Grid Holder holds two lift-out grids and has a spring-loaded jaw for easy unloading. This holder has a short standard pin style post base: ø3.2 x 4mm length (1/8" x 0.15") to accommodate thinner-type stage plates used in full wafer systems. Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body. NM= non magnetic.

2.Double TEM Grid and Sample Holder 透射電鏡雙樣品台載網夾

透射電鏡雙樣品台載網夾含有雙載網夾和雙樣品台，用於聚焦粒子束切割儀和透射電鏡/聚焦粒子束切割儀（DualBeam™ and CrossBeam®）。雙載網夾樣品台擁有標準的柱基腳規格：ø3.2 x 8.1mm長 (1/8" x 0.32")，可與大多數標準的固定套鞘匹配。薄型聚焦粒子束樣品台為標準的12.7mm (1/2")直徑。材質可以有非磁性不鏽鋼和鋁製兩種選擇。

TEM grid and sample holder for FIB and SEM/FIB (DualBeam™ and CrossBeam®) systems with stations for 2 TEM lift-out grids and 2 sample mounts. This holder has a standard pin style post base: ø3.2 x 8.1mm length (1/8" x 0.32") compatible with most standard pin stub holders. The Low Profile FIB Sample Mounts have a standard 12.7mm (1/2") diameter. Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body. 

3.Single Sample and Grid Holder單樣品台載網夾

單樣品台載網夾含有雙載網夾和單樣品台，用於聚焦粒子束切割儀和透射電鏡/聚焦粒子束切割儀。單樣品台載網夾擁有標準的柱基腳規格：ø3.2 x 8.1mm長 (1/8" x 0.32")，可與大多數標準的固定套鞘匹配。薄型聚焦粒子束樣品台為標準的12.7mm (1/2")直徑。材質可以有非磁性不鏽鋼和鋁製兩種選擇。

Single sample and TEM grid holder for FIB and SEM/FIB systems with stations for two TEM lift-out grids and one sample mount. This holder has a standard pin style post base: 3.2 x 8.1mm (1/8" x 0.32") compatible with most standard pin stub holders. The Low Profile FIB Sample Mounts have a standard 12.7mm (1/2") diameter. 

Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body.