产品名称：Omniprobe Double TEM Grid Holder透射电镜双载网夹

1.Double TEM Grid Holder透射电镜双载网夹

透射电镜双载网座有两个载网，有一个方便卸载样品的装有弹簧的钳夹。双载网夹拥有标准的柱基脚规格：ø3.2 x 4mm长 (1/8" x 0.15")，可与大多数标准的固定套鞘匹配。材质可以有非磁性不锈钢和铝制两种选择。

The Double TEM Grid Holder holds two lift-out grids and has a spring-loaded jaw for easy unloading. This holder has a short standard pin style post base: ø3.2 x 4mm length (1/8" x 0.15") to accommodate thinner-type stage plates used in full wafer systems. Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body. NM= non magnetic.

2.Double TEM Grid and Sample Holder 透射电镜双样品台载网夹

透射电镜双样品台载网夹含有双载网夹和双样品台，用于聚焦粒子束切割仪和透射电镜/聚焦粒子束切割仪（DualBeam™ and CrossBeam®）。双载网夹样品台拥有标准的柱基脚规格：ø3.2 x 8.1mm长 (1/8" x 0.32")，可与大多数标准的固定套鞘匹配。薄型聚焦粒子束样品台为标准的12.7mm (1/2")直径。材质可以有非磁性不锈钢和铝制两种选择。

TEM grid and sample holder for FIB and SEM/FIB (DualBeam™ and CrossBeam®) systems with stations for 2 TEM lift-out grids and 2 sample mounts. This holder has a standard pin style post base: ø3.2 x 8.1mm length (1/8" x 0.32") compatible with most standard pin stub holders. The Low Profile FIB Sample Mounts have a standard 12.7mm (1/2") diameter. Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body. 

3.Single Sample and Grid Holder单样品台载网夹

单样品台载网夹含有双载网夹和单样品台，用于聚焦粒子束切割仪和透射电镜/聚焦粒子束切割仪。单样品台载网夹拥有标准的柱基脚规格：ø3.2 x 8.1mm长 (1/8" x 0.32")，可与大多数标准的固定套鞘匹配。薄型聚焦粒子束样品台为标准的12.7mm (1/2")直径。材质可以有非磁性不锈钢和铝制两种选择。

Single sample and TEM grid holder for FIB and SEM/FIB systems with stations for two TEM lift-out grids and one sample mount. This holder has a standard pin style post base: 3.2 x 8.1mm (1/8" x 0.32") compatible with most standard pin stub holders. The Low Profile FIB Sample Mounts have a standard 12.7mm (1/2") diameter. 

Available with non-magnetic stainless steel or aluminum body.