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  • 产品名称：单晶硅试样Silicon Test Specimen

  • 产品型号：79502-01
  • 产品厂商：其它品牌
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简单介绍：
光（电）学显微镜放大倍率校正用单晶硅试样（同时评估图象扭曲度）。5mm x 5mm见方，每10µm (0.01mm)有一方格，格与格之间分割线大约为1.9µm宽，每隔500µm有一稍宽的分隔线，用于光学显微镜检测；分隔线和方格由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅试样上，从而对光镜（或者低倍电镜）进行内部标定。
详情介绍：

单晶硅试样Silicon Test Specimen

    光（电）学显微镜放大倍率校正用单晶硅试样（同时评估图象扭曲度）。5mm x 5mm见方，每10µm (0.01mm)有一方格，格与格之间分割线大约为1.9µm宽，每隔500µm有一稍宽的分隔线，用于光学显微镜检测；分隔线和方格由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅试样上，从而对光镜（或者低倍电镜）进行内部标定。

 

单晶硅试样Silicon Test Specimen

    可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。产品选购：

货号

产品

规格

79502-01

Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样

each

79502-10

Silicon Test Specimen, Unmounted

10/pk

79502-12

Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub

each

79502-20

Silicon Test Specimen for Incident LM

each

79502-30

Calibration Certificate带有认证书的单晶硅试样

each

沪公网安备 31010902002433号